半导体参数测试仪

半导体参数测试仪

半导体参数测试仪

型号:FS380/FS360 类别: 半导体参数测试仪 品牌: pdf资料: 半导体参数测试仪.pdf
销售热线:010-53326395,52859587 在线咨询:    半导体参数测试仪在线咨询QQ:1518902040
 业内最快速的半导体参数测试仪 FS380/FS360
 
 
系统构成
-  高精度SMU – 200V, 0.1fA
-  CV Module – 4-8MHz
-  最快速的 1/f 噪声 测试 – NC300
-  DUT – 各类半导体器件
-  软件– FastLab
-  器件建模软件- MeQLab
 
参数测试系统方案:
-   FS360 (60V, 1fA),4个中精度SMU;
-   FS380 (200V, 0.1fA),4个高精度SMU
教育套件:
   DUT + FS + MeQLab
 
技术指标
    Function Specifications
Hardware FS380 High Precision SMU 0.1fA sensitivity, 200V, 3A max, 50uS pulse built-in
FS360 Medium Precision SMU 1fA sensitivity, 60V, 10A max, 50uS pulse built-in
FS300 1/f Noise Module 100kHz/10MHz
FS336 CV Module 4-8MHz frequency range
Software FastLab Measurement Software Embedded, Plug & Play
MeQLab Modeling & Simulation Support all industry models, Circuit analysis
 

FS300–1/f 噪声特性测量
FS300 1/f 噪声分析单元可以和FS380/ FS360 组成一个系统
-  测量时间: 10s
-  带宽: 100kHz or 10MHz
-  最小噪声分辨率: 1e-29A2/Hz
-  最大输出电压: 100V
-  最大输入电流: 10mA
-  High roll-off frequency
-  超低电流测量能力

FS336 – Fast LCR Module
FS336 是LCR 单元,可与 FS380 或 FS360组合在一起,完成CV. 
-  宽频率范围: 4Hz – 8MHz
-  内置电源偏置: 10mv – 5V
-  内置电流测量: 10uA – 100mA
-  外置电压偏置: ±40 V
 
 
I-V Part(Easy setup

 
I-V Part(GUI interface

 
典型客户
-  传统的微电子、半导体专业,CMOS研究
-  理学院、材料学院
-  光电子器件、光电实验室
-  化学系(与物理联系密切),有机半导体,纳米器件等
-  纳微能源技术研究
 

公司地址:北京市朝阳区马甸裕民路12号元辰鑫大厦E2座2313-2315室,邮编100029
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