综合IV性能测试仪

数字源表的价格，器件分析仪的性能！
请问你还在购买源表吗？买来不会用、不会接线、没有程控自动化软件、即便是有软件，没有办法满足自己的要求，等等问题一直困扰着老师和同学。现在好了，我公司最新推出的JYC3100综合IV性能测试仪，可以解决你的问题，让你只需专注予你的科研，而无需了解仪器设备，轻轻一点，你需要的数据就很快会呈现，实时曲线、实时数据、自动保存完好的数据文件，还有专业的工程师技术支持，等等一切的一切会让你轻松的完成你需要的实验工作，来助力你的科研事业蒸蒸日上。

仪器简介

JYC3100综合IV性能测试仪，内部包含高性能的进口数字源表和电源，外部配置计算机，以及测试盒和探针台等组成。可以针对各种形式材料器件，如：封装的、晶圆片、有无电极的材料等形式；可用于测试半导体材料器件，铁电、压电、晶体等材料，以及光电器件、传感器、太阳能电池等，是一款真正的用途广泛、功能强大、性价比很高的测试仪器。

典型应用
非常适合当今多种现代化电子器件的电流/电压特性分析和功能测试，包括：
•纳米材料与器件：石墨烯、碳纳米管、纳米线、低功耗纳米结构
•半导体结构：晶圆、薄膜
•有机材料与器件：电子墨水、印刷电子技术
•能量效率与照明：LED/AMOLED、光伏/太阳电池、电池
•分立器件与无源组件：
两端器件: 电阻器、二极管、齐纳二极管、LED、传感器；
三端器件:场效应晶体管 (FET)，COMS器件和有机半导体器件等等
•材料特性分析：电阻率、霍尔效应

主要性能指标
1、SMU模块
    高达 200 V/1 A
    2档量程范围： 20V 10A；200V 100mA
    电源电压：最小量程 ±20mV,最小分辨率 500nV
    电源电流：最小量程 ±10nA,最小分辨率 500fA
    测量电压：最小量程±20mV，最小分辨率：10nV
    测量电流：最小量程±10nA，最小分辨率：10fA
2、电源模块：60V/2A

测试软件

1、全中文图形化的用户界面，功能设置灵活方便，参数设置提供多种选择。
2、实时显示图形曲线，并自动存储测试数据。
3、具备完整的器件测试分类，包括如：二极管、光电管、MOS管等。
4、主要软件功能：
    基本测试：经典扫描、列表扫描、时间采样、长时间采样、四线低电阻测试、脉冲测试等
    二极管：正向导通测试、反向击穿测试等。
    MOS管：输出特性、转移特性，正向导通电阻、反向击穿电压等。

    应用测试：太阳能电池测试、四探针电阻率测试

标准配置测试夹具
1）适合四端口封装器件测试，并且可以更换多种封装。

2）探针台：
通常配置：XYZ三轴移动卡盘平台、体视显微镜、三同轴管状夹具、探针座和探针等。
选件配置：CCD采集卡、屏蔽箱和光源输出光纤支架

3）直线4探针夹具：用于方块电阻及表面电阻率的测试。